Le système multifonction SQ3000+ pour la métrologie, l'inspection AOI et SPI est une extension du système SQ3000 primée à plusieurs reprises et considérée comme la meilleure de sa catégorie. Le nouveau SQ3000+ offre une combinaison d'une précision et d'une vitesse inégalées avec un capteur de résolution encore plus élevée.
La SQ3000+ équipée de la technologie MRS est idéale pour les applications complexes mettant en oeuvre des boîtiers innovants, des mini/micro LEDs, des applications pour l'automobile, le médical, le militaire, l'aéronautique et l'électronique de pointe, l'inspection des dépôts de sérigraphie de composants miniatures 008004/0201 (SPI), la métrologie de sockets pour composants et autres applications de mesure de coordonnées (CMM) où la qualité et la fiabilité sont primordiales.
au cœur de nos préoccupations
© Gemaddis. Tous droits réservés.•Crédits & mentions légales•Politique de confidentialité•CGV