SNE-3200M_SEC-presentation_gemaddis.png

Présentation de la solution d'inspection SNE 3200M :

Performance :

Resolution : 15nm

Magnification : 60,000x

Multi Detector : SE / BSE

Entry-level Table-top SEM with 15nm resolution & 60,000x magnification. Able to use for quality control, R&D and education purpose with various detectors which create surface information images (SE), and material informaiton images (BSE).

Spécifications de la SNE 3200M :

Résolution 15nm (30kV, SE Image), 20nm (30kV, BSE Image)
Grossissement 20x~60,000x
Tension d'accélération 1~30kV (1/5/10/15/20/30)
Détecteur Secondary Elecctron Image(SE) Backscattered Electron Image(BSE)
Canon à électrons Pre-centered Tungsten Filament Cartridge
Manipulateur 3-axis System (X, Y, R, Z, T - Manual)X, Y-axis : 35mm / R-axis : 360°* Image Shift : ±150μm* CCD Camera installed in the Chamber* T-axis : 0 to 45˚ (Option)
Taille d'échantillon 70mm in Diameter x 30mm in Height
Fonctions auto Auto Start, Auto Focus, Auto Stigmator, Auto Contrast & Brightness
Formats d'image BMP, JPEG, PNG, TIFF
Mode de vide High & Low Vacuum
Pompe à vide Rotary Pump / Turbo Molecular Pump (Full Automation)
Unité principale 390(W)x380(D)x560(H)mm, 83kg
Contrôleur 390(W)x325(D)x560(H)mm, 37kg
Pompe à vide 400(W)x160(D)x340(H)mm, 24kg
Image-d'inspection-1-SNE-3200M_SEC.jpg
Image-d'inspection-2-SNE-3200M_SEC.png

Convenience

Stage System : X,Y,R (3-axis) / Beam Shift:150μm

Auto Setting : Focus, Contrast, Brightness

Dual View Mode : SE/BSE Multi Display

Convenient stage movement by 3-axis and able to operate easily and conveniently with mouse control in U.I. Able to check and save both SE/BSE Images together at the same time with dual view mode.

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