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Présentation de la SQ3000+ AOI / SPI / CMM

Le système multifonctions SQ3000+ pour la métrologie, l'inspection AOI et SPI est une extension du système SQ3000 primée à plusieurs reprises et considérée comme la meilleure de sa catégorie. Le nouveau SQ3000+ offre une combinaison d'une précision et d'une vitesse inégalées avec un capteur de résolution encore plus élevée.

Solution d'Inspection et de Métrologie pour l'assemblage et l'amélioration de process des applications de pointe

La SQ3000+ équipée de la technologie MRS est idéale pour les applications complexes mettant en oeuvre des boîtiers innovants, des mini/micro LEDs, des applications pour l'automobile, le médical, le militaire, l'aéronautique et l'électronique de pointe, l'inspection des dépôts de sérigraphie de composants miniatures 008004/0201 (SPI), la métrologie de sockets pour composants et autres applications de mesure de coordonnées (CMM) où la qualité et la fiabilité sont primordiales.

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